精度能达到0.5级，局放＜5pc@14.4kv，介质损耗＜0.1%，雷电冲击75kvac，1.2/50μs，正负极性各 15 次。
并联电容器的运行电压，必须严格控制在允许范围之内。即并联电容器的长期运行电压不得大于其额定电压值的10%，运行电压过高，将---缩短电容器的使用寿命。随着运行电压的升高，并联电容器的介质损耗将增大，使电容器温度上升，加快了电容器绝缘的老化速度，造成电容器内绝缘过早老化、击穿而损坏。此外，在过高的运行电压作用之下，电容器内部的绝缘介质会发生局部老化，电压越高，老化越快，寿命越短。
并联电容器长期运行电压若高于其额定电压的20%，其使用寿命将是正常情况的0.3倍左右。
所以，应根据当地电网运行电压的实际情况，合理选择额定电压值，使其长期运行电压不大于电容器额定电压值的1.1倍，当然实际运行电压过低也是十分不利的，因为并联电容器所输出的无功功率是与其运行电压的平方成正比的。若运行电压过低，将使电容器输出的无功功率减少，无法完成无功补偿的任务，失去了装设并联补偿电容器应起的作用。所以在实际运行中，一定要设法使并联电容器的运行电压长期保持在其额定电压的95%～105%，较高运行电压不得大于其额定电压值的110%
精度能达到0.5级，局放＜5pc@14.4kv，介质损耗＜0.1%，雷电冲击75kvac，1.2/50μs，正负极性各 15 次。
1、电容器的爆1炸：电容器如果内部的元件被击穿，与之其他的电容器就会对其进行放电，互感器电容器厂，能量过去大就会导致爆1炸，爆1炸就不但会对周围的所有设备造成危险发生火灾，而且---的还会危机到人的生命。
2、外壳膨胀：在电压的作用下电容器内部介质会发生游离，或者是当元件被击穿时都会导致介质析出气体，在密封的外壳中这些气体将引起压力的增加，因而将引起外壳膨胀。
精度能达到0.5级，局放＜5pc@14.4kv，介质损耗＜0.1%，雷电冲击75kvac，1.2/50μs，正负极性各 15 次。
原始的电容器是1745年荷兰莱顿大学p.穆森布罗克发明的莱顿瓶，它是玻璃电容器的雏形。
1874年德国m.鲍尔发明云母电容器。1876年英国d.斐茨杰拉德发明纸介电容器。
1900年意大利l.隆巴迪发明瓷介电容器。
30年代人们发现在陶瓷中添加钛酸盐可使介电常数---增长，因而制造出较便宜的瓷介电容器。
1921年出现液体铝电解电容器。
1938年前后改进为由多孔纸浸渍电糊的干式铝电解电容器。
1949年出现液体烧结钽电解电容器。
1956年制成固体烧结钽电解电容器。
50年代初，晶体管发明后，元件向小型化方向发展。随着混合集成电路的发展，又出现了无引线的---型片状电容器和其他外贴电容器。
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